產品介紹

ICT 測試機

I1000

I1000

系統性能

內電路測試 (ICT) 系統中的 Keysight Medalist i1000,是低成本的內電路測試解決方案,適用於只需「恰好足夠測試」的原廠設計製造商。不同於製造業的缺陷分析儀測試系統,和其他安捷倫首創早期研發部署產生的 TestJet 技術 之 ICT 系統,Keysight Medalist i1000 則提供尖端是德科技 VTEP v2.0 動力無向量測試套件,包括屢獲殊榮的 iVTEP 和網路參數量測技術。這些特色提供了無可比擬的微球柵式陣列構裝和覆晶涵蓋範圍,以及接頭的電源和接地接腳 (常見於數位消費性產品和桌上型電腦中)。

另外,也從先前只有類比功能的 ICT 加以改良,新推出的數位版系統現在具備每接腳可程式設計數位卡,以及全新的一組直覺式軟體圖形化使用者介面 (GUI),可讓程式設計與開發輕鬆省力。

利用新的數位功能,Keysight i1000D 現在可以簡單的低成本長線測試夾具,進行以數位 PCF/VCL 程式庫為基礎的測試、邊界掃描與 I2C/SPI 序列程式設計。這為尋求不增加成本而擴大測試範圍的客戶,帶來了絕佳的機會。

系統規格

數位涵蓋範圍
Keysight i1000D 的數位子系統,運用了領先業界 Keysight Medalist i3070 ICT 的簡單與強大特色,讓客戶只要按幾下滑鼠,即可調整測試速度、驅動與接收電壓。

完整的邊界掃描功能
安捷倫的 i1000 具備完整的邊界掃描功能,包含標準邊界掃描、連接測試到互連測試,讓使用者獲得更多 ICT 功能。

強大的除錯介面
數位除錯 GUI 運用了舊型 Keysight i3070 PushButton 除錯 GUI 的控制與彈性功能,讓工程師與技師能夠完全掌控數位測試參數與測試源碼。

低成本夾具
Keysight Medalist i1000D 使用傳統的 MDA 式長線按壓夾具,進行數位測試。邊界掃描測試、序列程式設計與使用程式庫的測試,全都可順暢進行。使用者現在擁有簡單有效的測試解決方案,同時降低使用 MDA 式夾具的操作成本。